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    德国INNOWEP通用表面分析仪UST

    产品型号: UST
    品  牌: 德国INNOWEP
    • ≧1 台
      ¥10000.00
    所 在 地: 上海
    更新日期: 2022-12-15
    详细信息

    UST通用表面分析仪
    产品介绍

    通用表面测试仪,具有高局部分辨率,可测量变形、阻尼、形貌、微摩擦等。

    一个系统中的通用表面解决方案

    UST设计用于在一个开放平台内提供定量机械表征。它*好地服务于我们遍布全球的工业合作伙伴和研究机构的研发中心。基于获得专利的测量协议,UST®在纳米和厘米范围内提供必要而可靠的解决方案。

    UST – 万能表面测试仪®,是唯一一个为散装材料和表面涂层评估提供完整机械测试解决方案的开放式多模块化系统。可以完成10多种测量,并开发了60多种不同的测试尖端,以满足您的表征要求的多样性。

    基本单位UST ®有两个版本:UST100(负载范围1mN-100mN)和UST1000(加载范围100mN-50N)。基本单元由落地式柜、带 3 个吸头的测量头、自动 X-Y 工作台和数据采集系统组成

    2 适配模块

    3D 变形

    在一个区域上自动执行多次单次扫描,并记录完整曲面的 3D 变形属性。3D 变形

    技术参数:金刚石锥 60°/ 90°/ 120°

    钢锥 60°

    3D 地形

    在一个区域上自动执行多次单次扫描,并记录完整表面的 3D 形貌和材料属性。

    D 地形

    3D 粗糙度

    粒子模式

    技巧:金刚石锥 60°/ 90°/ 120°

    钢锥 60°

    划痕

    标准划痕,具有局部表面轮廓的标准划痕测试

    提示:划痕钻石 5° 底切

    微量离心(标准)

    在扫描过程中测量样品和尖端之间的摩擦力,精度以mN为单位。

    硬件:带传感器的摩擦台

    电脑控制器卡

    样品固定和夹紧

    微摩擦 + 2D 形貌

    微摩擦 + 2D 变形

    提示:可根据要求定制吸头(例如触觉吸头)

    3 产品优势

    在各种商用在线材料性能测试仪器中,UST是迄今为止唯一一家缩小传统宏观机械试验机与纳米级机器(如AFM)之间差距的测试仪。®

    高精度负载传感器与压电执行器和主动反馈回路控制相结合,用于实时测量正常负载和摩擦力

    通过轻松更换测量头,可选择具有不同负载范围的选件

    带有内置电机的自动 X-Y 工作台,可实现高精度轮廓测量,测量区域可达 60 mm × 60 mm

    高分辨率工作台,用于高重新定位

    精确的深度测量,所有测试的行程范围更大,Z方向可达4 mm

    带位移传感器的高级线性模块

    具有局部分辨率的原位测量

    稳定控制速度、位移和步进负载

    具有同步全景图的自动视频显微镜

    符合 ISO、DIN 和 ASTM 标准

    实时数据采集,图像、数据和图形完全集成

    轻松的样品制备和吸头更换

    为各种应用定制吸头选择

    兼容各种环境:液体或湿度

    4 测试原理

    UST测量程序包括用手写笔在样品表面上沿着直线进行多次机械扫描。在这个获得专利的MISTAN程序中,手写笔在没有负载或以定义的负载在表面上移动。

    步骤1:无负载扫描。连续确定表面结构。

    步骤2:在具有额外载荷的同一路径上进行扫描以确定总变形。

    步骤3:在无载荷的情况下在同一路径上扫描以确定弹性变形。

    总变形 = 步骤 1 - 步骤 2;

    弹性变形 = 步骤 3 – 步骤 2;

    永久变形 = 步骤 1 - 步骤 3

    5 技术参数

    项 1:UST 100®

    选项 2:UST 1000®

    包括:二维变形测量

    吸头检查/校准

    3 个标准吸头(2 个钢锥,钢球)

    1 个大夹具/ 1 个小夹具/ 工具/ 螺钉

    UST 100

    负载范围:1 mN – 100 mN

    负载分辨率: <0,1 mN

    负载背景噪音: <10 mN

    X、Y 轴位移分辨率: 1 μm

    Z 轴位移分辨率: 60 nm

    UST 1000

    负载范围:10 mN – 50 N

    负载分辨率: <1 mN

    负载背景噪音: <100 mN

    X、Y 轴位移分辨率: 1 μm
    UST通用表面分析仪标价为定金,来电根据配置获取详细价格。

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